ATE（自動試験装置）
ATE（自動試験装置）
アナログ・デバイセズは、高性能でコスト効率に優れた半導体テスト用に設計された自動試験装置（ATE）を中心とする包括的な製品ポートフォリオを提供しています。統合化ピン・エレクトロニクス（PE）は、電圧と電流を正確に制御してデジタル信号を駆動します。これらのPE製品には、レベル設定DACを介して制御されるパーピン・パラメトリック測定ユニット（PPMU）が集積されています。デバイス電源（DPS）は、被試験デバイスに正確な電力を供給するために不可欠です。パラメトリック測定ユニット（PMU）は、電圧と電流の正確な測定と監視に使用されます。アナログ・デバイセズのATEソリューションは、パッケージおよびオンウェハ試験ソリューションの両方をターゲットとする幅広いICテスト・アプリケーションに対応しています。代表的なテスト対象デバイスには、デジタルSoC、メモリ製品、RFデバイス、高電圧デバイスなどがあります。アナログ・デバイセズのATE製品は、あらゆるATEテストのニーズに対応する最大限の柔軟性を備え、業界をリードする性能を提供します。
アナログ・デバイセズは、高性能でコスト効率に優れた半導体テスト用に設計された自動試験装置（ATE）を中心とする包括的な製品ポートフォリオを提供しています。統合化ピン・エレクトロニクス（PE）は、電圧と電流を正確に制御してデジタル信号を駆動します。これらのPE製品には、レベル設定DACを介して制御されるパーピン・パラメトリック測定ユニット（PPMU）が集積されています。デバイス電源（DPS）は、被試験デバイスに正確な電力を供給するために不可欠です。パラメトリック測定ユニット（PMU）は、電圧と電流の正確な測定と監視に使用されます。アナログ・デバイセズのATEソリューションは、パッケージおよびオンウェハ試験ソリューションの両方をターゲットとする幅広いICテスト・アプリケーションに対応しています。代表的なテスト対象デバイスには、デジタルSoC、メモリ製品、RFデバイス、高電圧デバイスなどがあります。アナログ・デバイセズのATE製品は、あらゆるATEテストのニーズに対応する最大限の柔軟性を備え、業界をリードする性能を提供します。
関連資料
カテゴリー内の製品
{{modalTitle}}
{{modalDescription}}
{{dropdownTitle}}
- {{defaultSelectedText}} {{#each projectNames}}
- {{name}} {{/each}} {{#if newProjectText}}
-
{{newProjectText}}
{{/if}}
{{newProjectTitle}}
{{projectNameErrorText}}