ADuM4177

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スルー・レート制御とSPIを備えた30A絶縁型SiCゲート・ドライバ

データシート (Rev. 0) 製品セレクション・テーブル
利用上の注意

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なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」（リビジョン0）で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」（Rev.G）と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。
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製品の詳細

  • 30A（代表値）のピーク短絡電流駆動出力
  • 代表的なアプリケーションにおける20A（代表値）のピーク駆動電流
  • 出力電力デバイス抵抗< 0.4Ω
  • DIN V VDE 0884-11対応の1500V peakおよびDC動作電圧
  • SPIインターフェースによるスルー・レート制御
  • 短い伝搬遅延時間（代表値140ns）
  • 60nsの最小パルス幅
  • バイポーラおよびユニポーラの二次側電源機能
  • VDD1：4.4V～7V
  • VDD2-GND2：12V～24V
  • GND2-VSS2：0V～−5.5V
  • 保護機能：
  • DESAT − SiCドレイン検出、7V（代表値）閾値
  • プログラマブルな内部DESATブランキング時間
  • ASCピン、二次側ドライバ・ターンオン制御、8V（代表値）閾値
  • 外部ミラー・クランプ
  • ソフトシャットダウン、1µsの能力、外部抵抗により調整可能
  • VDD2-VSS2の過電圧保護（OVP）およびプログラマブルなVDD2-VSS2の低電圧保護（UVP）
  • GND2-VSS2のOVPおよびUVP
  • 故障通知ピンを通じた絶縁故障分離
  • SiCスイッチの絶縁が確保された温度検出
  • 1kHzのPWM、およびSPIレジスタ読出し
  • 温度検出ダイオード・スタック
  • 外部抵抗ネットワークを使用してNTCに対応可能
  • SPIインターフェース
  • 不揮発性EEPROMレジスタにより設定変更可能
  • 故障通知情報
  • 動作時ジャンクション温度範囲（−40ºC～150ºC）
ADuM4177
スルー・レート制御とSPIを備えた30A絶縁型SiCゲート・ドライバ
ADuM4177 Functional Block Diagram ADuM4177 Application Circuit ADuM4177 Pin Configuration ADuM4177 Chip
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ツールおよびシミュレーション

IBISモデル 1

評価用キット

eval board
schematic 1
schematic 2
schematic 3
EVAL-ADUM4177EBZ

Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests

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機能と利点

  • 40 A (source), 30 A (sink) peak drive output capability
  • Output power device resistance: 0.38 Ω per MOSFET
  • Test infrastructure for
    • SPI communication
    • Slew-rate control
    • Desaturation detection
    • Miller drive
    • Active short-circuit
    • Temperature sensing
    • Fault reporting
    • Multiple dummy loads

製品詳細

The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board shows the advanced features of the ADuM4177 while maintaining flexibility in a testing environment. The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board layout delivers a circuit that is easy to control through jumper pins and with access to all of the pins through headers and input and output connectors. A more optimized layout is possible that increases the performance of the system.

The EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board works with the USB-SDP-CABLEZ programming cable to access the secondary side electronically erasable programmable read-only memory (EEPROM) and includes the option to drive the serial-peripheral interface (SPI) bus with any other SPI compatible system. The USB-SDP-CABLEZ operates with a 3.3 V logic supply, while the ADuM4177 is typically powered with 5 V. Resistor dividers are added on the SPI channels to allow interfacing.

The user guide shows how to use the ADuM4177 evaluation board to perform basic evaluations such as propagation delay testing, active short-circuit (ASC) function, and desaturation (DESAT). The user guide also shows how to use the evaluation software to access the user configurable bits and explains how to simulate EEPROM settings and program bits into nonvolatile memory.

Full specifications on the ADuM4177 are available in the ADuM4177 data sheet available from Analog Devices, Inc., and must be consulted with the user guide when using the EVAL-ADuM4177EBZ evaluation board.
EVAL-ADUM4177EBZ
Evaluating the ADuM4177, 40 A Source/30 A Sink SiC Isolated Gate Driver with Slew-Rate Control and Built-In Self Tests
EVAL-ADuM4177EBZ Evaluation Board EVAL-ADuM4177EBZ Evaluation Board - Top View EVAL-ADuM4177EBZ Evaluation Board - Bottom View

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